◆将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂工件高精度内外尺寸全面测量， Werth能提供7组能量，从130kv到450kv。

◆RO技术，保证全局快速扫描又能对细节部分进行高清重构。

◆测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析。

◆ WinWerth Vo|umex射线技术，行业首推的多材料边界测量技术，整个测量过程自动寻边、操作简单、无需丰富的测量经验即可满足较高的重复性与再现性，更好的应用于装配分析。